Análisis químico superficial mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS)

Servicio tecnológico

Detalle:

Determinaciones químicas de superficies mediante espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) con un equipo ESCA VG Microtech con analizador de energía modelo VG100AX y fuente de rayos X de 300w de dos ánodos (Al y Mg).

Metodología:

Se registran espectros generales (o de inspección) con la finalidad de obtener un panorama general de la composición química superficial de las zonas de análisis. Luego se procede a registrar espectros detallados (de mayor resolución) en rangos energéticos de los elementos químicos bajo análisis.