Science and Technology Production
Congress
Authorship
Laura Baqué
;
Oscar Grizzi
;
Adriana Serquis
Date
2020
Publishing House and Editing Place
IQUIMEFA-UBA-CONICET - Facultad de Farmacia y Bioquímica - UBA
Summary
Information provided by the agent in
SIGEVA
La técnica de espectrometría de masas de ionessecundarios detectados por tiempo de vuelo (TOF-SIMS) es una poderosa técnicade análisis de alta resolución y sensibilidad que permite obtener informaciónquímico-composicional multidimensional de un amplio rango de muestras(metálicas, cerámicas, vítreas, poliméricas, geológicas, biológicas, etc.) [1].Esencialmente consiste en bombardear la muestra con un haz d...
La técnica de espectrometría de masas de ionessecundarios detectados por tiempo de vuelo (TOF-SIMS) es una poderosa técnicade análisis de alta resolución y sensibilidad que permite obtener informaciónquímico-composicional multidimensional de un amplio rango de muestras(metálicas, cerámicas, vítreas, poliméricas, geológicas, biológicas, etc.) [1].Esencialmente consiste en bombardear la muestra con un haz de iones primariosgenerando, por un proceso de sputtering, un haz de iones secundarios cuyasmasas son luego separadas de acuerdo al tiempo de vuelo (ver Figura 1). Elequipo de TOF-SIMS instalado recientemente en la CNEA es el primero de su tipoen Sudamérica. Además, posee una configuración muy completa que incluye unafuente de iones focalizados (FIB) para seccionado transversal de muestrasinhomogéneas y una fuente de clúster de Ar para sputtering de materialesorgánicos. En este trabajo se dará una introducción general a la técnica deTOF-SIMS, se presentarán las capacidades analíticas del equipo, y se discutiránsus potencialidades y limitaciones para la caracterización de materiales.
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Key Words
TOF-SIMSSIMSCaracterización de SuperficiesCaracterización de materiales