1. CONICET
  2. Comunidad CONICET
  3. IRENE SÁNCHEZ ARROYAVE
Comunidad CONICET
SÁNCHEZ ARROYAVE, IRENE

Beca interna doctoral

Especialidad
Óptica
Disciplina Científica
Física
Tema
Acoplamiento entre Modos en Resonadores Microelectromecánicos de GaAs
Lugar de Trabajo
UNIDAD EJECUTORA INSTITUTO DE NANOCIENCIA Y NANOTECNOLOGIA - NODO BARILOCHE (UE-INN - NODO BARILOCHE, CONICET-CNEA)
Depende de
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Dirección:
AV. E. BUSTILLO KM 9500 S/N, R8402AGP - San Carlos de Bariloche - Río Negro - Argentina
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Resumen Información suministrada por el agente en SIGEVA
El proceso microlitográfico de circuitos con resinas fotosensibles requiere entender su comportamiento en condiciones de laboratorio, ya que el espesor de la capa depende de la viscosidad, densidad del líquido y velocidad de rotación. Este estudio se centra en las resinas AZ-1518 y AZ-nLOF2035, utilizando el método de spin-coating, que garantiza una deposición uniforme sin fuerzas tangenciales. Es fundamental establecer una curva de calibración específica para las condiciones del laboratorio, d... El proceso microlitográfico de circuitos con resinas fotosensibles requiere entender su comportamiento en condiciones de laboratorio, ya que el espesor de la capa depende de la viscosidad, densidad del líquido y velocidad de rotación. Este estudio se centra en las resinas AZ-1518 y AZ-nLOF2035, utilizando el método de spin-coating, que garantiza una deposición uniforme sin fuerzas tangenciales. Es fundamental establecer una curva de calibración específica para las condiciones del laboratorio, dado que las curvas proporcionadas por los fabricantes pueden no ajustarse a estas condiciones. La elipsometría espectral es la técnica experimental utilizada para caracterizar las muestras, permitiendo medir las constantes ópticas y determinar el espesor de las capas. Mediante el modelo de Nuevo Amorfo, se logra un ajuste con una bondad estadística resaltable, adaptándose a diversas condiciones ambientales. La investigación busca relacionar el grosor de las capas con las revoluciones del centrifugado para optimizar el proceso litográfico.
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Líneas de Investigación

Caracterización de materiales

Ciencias naturales y exactas

  • Ciencias físicas
  • Óptica (incluida óptica láser y óptica cuántica), acústica
Capacidades Tecnológicas

5 - Ciencias físicas y exactas

5.3 - Física

  • 5.3.1 - Ingeniería acústica y vibracional
  • 5.3.2 - Óptica
  • 5.3.3 - Vacío

5.5 - Micro y nanotecnología

Palabras Clave
Elipsometría espectralCaracterización ópticaResinas fotosensiblesSpectral ellipsometryOptical characterizationPhotosensitive resins
Formación Académica

2017 - 2024

Licenciatura en física

UNIVERSIDAD DISTRITAL FRANCISCO JOSE DE CALDAS

2013 - 2015

Bachiller académico con técnico en sistemas

SENA

Formación de RRHH
Dirigida por:
PASTORIZA, HERNAN
Carrera Investigador
PASTORIZA, Hernan Carrera Investigador
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