SummaryInformation provided by the agent in SIGEVA
- Crecimiento de películas delgadas. Estudio de las mismas mediante espectroscopias de electrones: AES, XPS y UPS. Uso de la técnica de Análisis de Factores para la deconvolución de datos experimentales. - Interacción de iones con superficies. Formación de nanoestructuras por bombardeo iónico. Espectroscopias de iones: SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy) y LEIS (Low Energy Ion Scattering) aplicadas al estudio de superficies. Intercambio de carga en colisiones ion-superficie.- Aplicaciones de...- Crecimiento de películas delgadas. Estudio de las mismas mediante espectroscopias de electrones: AES, XPS y UPS. Uso de la técnica de Análisis de Factores para la deconvolución de datos experimentales. - Interacción de iones con superficies. Formación de nanoestructuras por bombardeo iónico. Espectroscopias de iones: SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy) y LEIS (Low Energy Ion Scattering) aplicadas al estudio de superficies. Intercambio de carga en colisiones ion-superficie.- Aplicaciones del método de Monte Carlo al estudio de la interacción de iones y electrones con sólidos.- Interacción de partículas con películas delgadas de aisladores: estudio del sputtering, radiólisis, luminiscencia y emisión electrónica en sistemas condensados (gases condensados, hielo). Aplicaciones en astrofísica- Litografía electrónica: crecimiento y caracterización de películas de fluoruros metálicos y su uso como resinas negativas y positivas.- Técnicas de producción de cilindros fotorreceptores de aleaciones de Se para aplicaciones en xerografía.
Show moreShow less
Lines of Investigation
Física de superficies e interfaces
Natural and exact sciences
Physical sciences
Physics of condensed materials
Interacción de iones con superficies
Natural and exact sciences
Physical sciences
Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonance, moessbauer effect.)
Technological Capacities
2 - Industrial manufacturing, material and transport technologies
2.7 - Materials Technology
2.7.22 - Nanomaterials
5 - Physical and exact sciences
5.3 - Physics
5.3.3 - Vacuum
5.5 - Micro- and Nanotechnology
9 - Measurements and standards
9.1 - Measurement Tools
9.1.8 - Other Non Destructive Testing
Key Words
ESPECTROSCOPIAS ELECTRÓNICASELECTRONIC SPECTROSCOPYTHIN FILMSPELÍCULAS DELGADASINTERACCIÓN DE IONES CON SUPERFICIESFÍSICA DE SUPERFICIESSURFACE PHYSICSION-SURFACE INTERACTION
Education
1983-1988
Doctor en Física
INSTITUTO BALSEIRO
1979-1982
Licenciado en Física
INSTITUTO BALSEIRO
Loading section Science and Technology Production...