Technological Offer
Servicio de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM)

Technological service

Detail
Se ofrece el servicio de obtención de imágenes por la técnica de microscopía de fuerza Atómica (AFM) de todo tipo de muestras, orgánicas e inorgánicas con el objetivo de recopilar información de la morfología superficial a escala nanoscópica. Se ofrecen diversas técnicas de análisis: contacto, taping, jumping y retrace.
Methodology
Con la técnica de AFM es posible obtener imágenes topográficas de la superficie de materiales llegando a resoluciones atómicas. No se requiere el uso de atmósferas especiales, o tratamiento previo de las superficies. Las muestras deben ser sólidas y no pueden exceder un tamaño de 10 mm x 10 mm x 5 mm (ancho x largo x alto). También es posible el análisis de muestras biológicas en medio líquido pero requieren de varias etapas de preparación y complejidad para el análisis que excedería la cobertu... Con la técnica de AFM es posible obtener imágenes topográficas de la superficie de materiales llegando a resoluciones atómicas. No se requiere el uso de atmósferas especiales, o tratamiento previo de las superficies. Las muestras deben ser sólidas y no pueden exceder un tamaño de 10 mm x 10 mm x 5 mm (ancho x largo x alto). También es posible el análisis de muestras biológicas en medio líquido pero requieren de varias etapas de preparación y complejidad para el análisis que excedería la cobertura del presente STAN. Con esta técnica es posible obtener imágenes tridimensionales de las superficies analizadas, perfiles, diagramas de nivel, determinar niveles de adhesión, propiedades eléctricas, rugosidad, dimensionar en XYZ, diferencias composicionales, etc.
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